Los circuitos integrados digitales están especificados para operar con sus entradas y salidas en un estado lógico 1 o lógico 0. La aparición de señales que tienen niveles de voltaje que no cumplen con las especificaciones de ninguno de estos niveles (una condición alterada) puede causar la generación y propagación de datos erróneos en un sistema digital. El conocimiento de la tasa de dosis de radiación que causa perturbaciones en los circuitos integrados digitales es esencial para el diseño, producción y mantenimiento de sistemas electrónicos que deben operar en presencia de ambientes de radiación pulsada.1.1 Este método de prueba cubre la medición del nivel umbral de la tasa de dosis de radiación que causa perturbaciones en los circuitos integrados digitales en condiciones de funcionamiento estáticas. La fuente de radiación es una máquina de rayos X flash (FXR) o un acelerador lineal de electrones (LINAC). 1.2 La precisión de la medición depende de la homogeneidad del campo de radiación y de la precisión de la dosimetría de la radiación y de los instrumentos de registro. 1.3 La prueba puede ser destructiva para pruebas posteriores o para fines distintos de esta prueba si el circuito integrado que se está probando absorbe una dosis total de radiación que excede un nivel predeterminado. Debido a que este nivel depende tanto del tipo de circuito integrado como de la aplicación, las partes en la prueba deben acordar un valor específico (6.8). 1.4 Los procedimientos de configuración, calibración y evaluación del circuito de prueba se incluyen en este método de prueba. 1.5 Los procedimientos para la calificación de lotes y el muestreo no están incluidos en este método de prueba. 1.6 Debido a la variabilidad de la respuesta de diferentes tipos de dispositivos, la tasa de dosis inicial para cualquier prueba específica no se proporciona en este método de prueba, pero debe ser acordada por las partes de la prueba. 1.7 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.8 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM F744M-10 Historia
2016ASTM F744M-16 Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales (métrico)
2010ASTM F744M-10 Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales [métrico]
1997ASTM F744M-97(2003) Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales [métrico]
1997ASTM F744M-97 Método de prueba estándar para medir el umbral de tasa de dosis para perturbaciones de circuitos integrados digitales