IEC 62415:2010
Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
- Estándar No.
- IEC 62415:2010
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62415:2010
- Alcance
- Esta norma describe un método para pruebas convencionales de electromigración de corriente constante de líneas metálicas, a través de cuerdas y contactos.
IEC 62415:2010 Historia
- 2010 IEC 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante
