IEC 62615:2010
Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas - Pulso de línea de transmisión (TLP) - Nivel de componente

Estándar No.
IEC 62615:2010
Fecha de publicación
2010
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 62615:2010
Alcance
Esta norma internacional define un método de prueba de pulso para evaluar la respuesta de corriente de voltaje del componente bajo prueba y considerar los parámetros de diseño de protección para el modelo de cuerpo humano (HBM) de descarga electrostática (ESD). Esta técnica se conoce como prueba de pulso de línea de transmisión (TLP). Este documento establece una metodología para probar y reportar información asociada con las pruebas de pulso de línea de transmisión (TLP). El alcance y enfoque de este documento se refiere a las técnicas de prueba TLP de componentes semiconductores. Este documento no debe convertirse en un método alternativo al estándar de prueba de HBM, como IEC 60749-26. El objetivo del documento es establecer directrices de métodos TLP que permitan la extracción de parámetros ESD de HBM en dispositivos semiconductores. Este documento proporciona la medición y el procedimiento estándar para la extracción correcta de los parámetros ESD de HBM mediante TLP.

IEC 62615:2010 Historia

  • 2010 IEC 62615:2010 Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas - Pulso de línea de transmisión (TLP) - Nivel de componente



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