BS EN 62415:2010
Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante

Estándar No.

BS EN 62415:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 62415:2010

Alcance

Esta norma describe un método para pruebas convencionales de electromigración de corriente constante de líneas metálicas, a través de cuerdas y contactos.

BS EN 62415:2010 Historia

• 2010 BS EN 62415:2010 Dispositivos semiconductores: prueba de electromigración de corriente constante