JIS C 1806-1:2010
Equipos eléctricos para medición, control y uso en laboratorio. Requisitos EMC. Parte 1: Requisitos generales.
- Estándar No.
- JIS C 1806-1:2010
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- Estado
- Remplazado por
- JIS C 61326-1:2017
- Ultima versión
- JIS C 61326-1:2017
- Reemplazar
- JIS C 1806-1:2001
JIS C 1806-1:2010 Documento de referencia
- JIS C 60050-161:1997 Vocabulario Electrotécnico Internacional: Compatibilidad electromagnética
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- JIS C 61000-4-4:2007 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-4: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a transitorios rápidos/ráfagas eléctricas
- JIS C 61000-4-5:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-5: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a sobretensiones
- JIS C 61000-4-6:2006 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición - Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia
- JIS C 61000-4-8:2003 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4: Técnicas de prueba y medición - Sección 8: Prueba de inmunidad al campo magnético de frecuencia industrial
- JIS C 61000-6-1:2008 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 6-1: Normas genéricas - Inmunidad para entornos residenciales, comerciales y de industria ligera
JIS C 1806-1:2010 Historia
- 2017 JIS C 61326-1:2017 Equipos eléctricos para medición, control y uso en laboratorio. Requisitos EMC. Parte 1: Requisitos generales.
- 2010 JIS C 1806-1:2010 Equipos eléctricos para medición, control y uso en laboratorio. Requisitos EMC. Parte 1: Requisitos generales.
- 2001 JIS C 1806-1:2001 Equipos eléctricos para medición, control y uso en laboratorio - Requisitos EMC
