IEC 60444-11:2010 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 11: Método estándar para la determinación de la frecuencia de resonancia de carga fL y la capacitancia de carga efectiva CLeff utilizando la técnica del analizador automático de redes y corrección de errores normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 60444 define el método estándar para medir la frecuencia de resonancia de carga f en el valor nominal de C, y la determinación de la capacitancia de carga efectiva C en la frecuencia nominal para cristales con el factor de mérito M > 4. M, según La Tabla 1 de la Norma IEC 60122-1-2002, se expresa en la siguiente ecuación: Esto da buenos resultados en un rango de frecuencia de hasta 200 MHz. Este método permite calcular la compensación de frecuencia de resonancia de carga Δf, el rango de tracción de frecuencia Δf y la sensibilidad de tracción S como se describe en 2.2.31 de IEC 60122-1-2002. A diferencia del método simple de IEC 60444-4, esta técnica de medición evita el uso de capacitores de carga física y permite una mayor precisión, mejor reproducibilidad y correlación con la aplicación. Extiende el límite de frecuencia superior de 30MHz mediante el método de IEC 60444-4 a 200MHz aproximadamente. Este método se basa en la técnica de medición con corrección de errores de IEC 60444-5-1995 y, por lo tanto, permite la medición de fLand C junto con la determinación de los parámetros del cristal equivalente en una secuencia sin cambiar el dispositivo de prueba. Con este método se busca la frecuencia f donde la reactancia XC del cristal tiene el valor opuesto a la reactancia de la capacitancia de carga. Además, este método permite determinar la capacitancia de carga efectiva C a la frecuencia nominal f.

IEC 60444-11:2010 Historia

2010 IEC 60444-11:2010 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 11: Método estándar para la determinación de la frecuencia de resonancia de carga fL y la capacitancia de carga efectiva CLeff utilizando la técnica del analizador automático de redes y corrección de errores