NF C96-022-15*NF EN 60749-15:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes.

Estándar No.

NF C96-022-15*NF EN 60749-15:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-15*NF EN 60749-15:2011

Reemplazar

NF C96-022-15:2003

NF C96-022-15*NF EN 60749-15:2011 Historia

• 2011 NF C96-022-15*NF EN 60749-15:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 15: resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados en orificios pasantes.
• 0000 NF C96-022-15:2003