ASTM E1441-11
Guía estándar para imágenes de tomografía computarizada (TC)

Estándar No.

ASTM E1441-11

Fecha de publicación

2011

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E1441-19

Ultima versión

ASTM E1441-19

Alcance

Esta guía proporciona una introducción tutorial a la teoría y el uso de la tomografía computarizada. Esta guía comienza con una descripción general destinada al lector interesado con conocimientos técnicos generales. Las secciones posteriores, más técnicas, describen las bases físicas y matemáticas de la tecnología CT, los requisitos de hardware y software de los equipos CT y las medidas fundamentales del rendimiento de CT. Esta guía incluye un glosario extenso (con discusión) de terminología de CT y una lista extensa de referencias a publicaciones más técnicas sobre el tema. Lo más importante es que esta guía establece definiciones consensuadas para medidas básicas de rendimiento de CT, lo que permite a los compradores y proveedores de sistemas y servicios de CT comunicarse sin ambigüedades con referencia a un estándar reconocido. Esta guía también proporciona algunas ecuaciones cuidadosamente seleccionadas que relacionan medidas de rendimiento de CT con parámetros clave del sistema. Descripción general de la tomografía computarizada8212;La TC es un método de inspección radiográfica que utiliza una computadora para reconstruir una imagen de un plano transversal (corte) a través de un objeto. La imagen transversal resultante es un mapa cuantitativo del coeficiente de atenuación lineal de rayos X, &#μ, en cada punto del plano. El coeficiente de atenuación lineal caracteriza la velocidad instantánea local a la que los rayos X se eliminan durante la exploración, por dispersión o absorción, de la radiación incidente a medida que se propaga a través del objeto (Ver 7.5). La atenuación de los rayos X cuando interactúan con la materia es un problema bien estudiado (1) y es el resultado de varios mecanismos de interacción diferentes. Para los sistemas de TC industriales con energía máxima de rayos X inferior a unos pocos MeV, todos los efectos, salvo unos pocos menores, pueden explicarse en términos de la suma de sólo dos interacciones: absorción fotoeléctrica y dispersión Compton (1). La interacción fotoeléctrica depende en gran medida del número atómico y la densidad del medio absorbente; La dispersión Compton es predominantemente función de la densidad electrónica del material. La atenuación fotoeléctrica domina a energías más bajas y se vuelve más importante con un número atómico más alto, mientras que la dispersión Compton domina a energías más altas y se vuelve más importante con un número atómico más bajo. En situaciones especiales, estas dependencias se pueden utilizar con ventaja (consulte 7.6.2 y las referencias allí). Una propiedad particularmente importante del coeficiente de atenuación lineal total es que es proporcional a la densidad del material, que es, por supuesto, una propiedad física fundamental de toda la materia. El hecho de que las imágenes de TC sean proporcionales a la densidad es quizás la principal virtud de la tecnología y la razón por la que a menudo se piensa que los datos de las imágenes representan la distribución de la densidad del material dentro del objeto que se inspecciona. Sin embargo, se trata de una simplificación excesiva y peligrosa. El coeficiente de atenuación lineal también conlleva una dependencia energética que es función de la composición del material. Esta característica del coeficiente de atenuación puede o no (dependiendo de los materiales y las energías de los rayos X involucrados) ser más importante que la dependencia básica de la densidad. En algunos casos, este efecto puede ser perjudicial y enmascarar las diferencias de densidad en una imagen de TC; en otros casos, se puede aprovechar, potenciando el contraste entre diferentes materiales de densidad similar. La diferencia fundamental entre la TC y la radiografía convencional se muestra en la Fig. 1. En la radiografía convencional, la información en el plano de corte &#“P” proyectos en una sola línea, “AA;” mientras que con la imagen de TC asociada se conserva toda la información espacial. La información de la TC se deriva de un gran número......

ASTM E1441-11 Documento de referencia

• ASTM E1316 Terminología estándar para exámenes no destructivos (paquete PDF estándar + Redline)
• ASTM E1570 Práctica estándar para el examen de tomografía computarizada (TC)*， 2023-11-09 Actualizar

ASTM E1441-11 Historia

• 2019 ASTM E1441-19 Guía estándar para tomografía computarizada (TC)
• 2011 ASTM E1441-11 Guía estándar para imágenes de tomografía computarizada (TC)
• 2000 ASTM E1441-00(2005) Guía estándar para imágenes de tomografía computarizada (TC)
• 2000 ASTM E1441-00 Guía estándar para imágenes de tomografía computarizada (TC)