GJB 7242-2011 (Versión en inglés)

Estándar No.: GJB 7242-2011
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2011
Organización: Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
Ultima versión: GJB 7242-2011

Alcance: Esta norma especifica el propósito, los requisitos y los procedimientos de la prueba para el efecto de evento único de dispositivos semiconductores. Esta norma es aplicable a pruebas de bloqueo y perturbación de un solo evento de dispositivos causadas por una intensa irradiación de iones.

GJB 7242-2011 Historia