IEC 62047-7:2011
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 7: Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia
- Estándar No.
- IEC 62047-7:2011
- Fecha de publicación
- 2011
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62047-7:2011
- Reemplazar
- IEC 47F/79/FDIS:2011
- Alcance
- Esta parte de IEC 62047 describe términos @ definición @ símbolos @ configuraciones @ y métodos de prueba que se pueden usar para evaluar y determinar las características de rendimiento de los resonadores @ filtro @ BAW y dispositivos duplexores como dispositivos de selección y control de radiofrecuencia. Esta norma especifica los métodos de prueba y los requisitos generales para resonadores@filtros@ y dispositivos duplexores BAW de calidad evaluada utilizando procedimientos de aprobación de capacidad o calificación.
IEC 62047-7:2011 Historia
- 2011 IEC 62047-7:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 7: Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia
