ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional especifica un método para evaluar la repetibilidad y constancia de la escala de intensidad de espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X, para fines analíticos generales, utilizando rayos X de Al o Mg no monocromáticos o rayos X de Al monocromáticos. Sólo es aplicable a instrumentos que incorporen una pistola de iones para limpieza por pulverización catódica. No pretende ser una calibración de la función de respuesta de intensidad/energía. Esa calibración puede ser realizada por el fabricante del instrumento u otra organización. El presente procedimiento proporciona datos para evaluar y confirmar la precisión con la que la función de respuesta de intensidad/energía permanece constante con el uso del instrumento. Se proporciona orientación sobre algunas de las configuraciones del instrumento que pueden afectar esta constancia.

ISO 24237:2005 Historia

2005 ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad