IEC TS 61967-3:2005
Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 3: Medición de emisiones radiadas. Método de escaneo de superficie.

Estándar No.

IEC TS 61967-3:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC TS 61967-3:2014

Ultima versión

IEC TS 61967-3:2014

Alcance

Esta parte de IEC 61967 proporciona un procedimiento de prueba que define un método para evaluar los componentes del campo eléctrico, magnético o electromagnético cercano en o cerca de la superficie de un circuito integrado (IC). Este procedimiento de diagnóstico está destinado al arco IC.

IEC TS 61967-3:2005 Historia

• 2014 IEC TS 61967-3:2014 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 3: Medición de emisiones radiadas - Método de escaneo de superficie
• 2005 IEC TS 61967-3:2005 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz. Parte 3: Medición de emisiones radiadas. Método de escaneo de superficie.