IEC PAS 62431:2005
Métodos de medición de la reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica.
- Estándar No.
- IEC PAS 62431:2005
- Fecha de publicación
- 2005
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- 2008-07
- Ultima versión
- IEC PAS 62431:2005
- Remplazado por
- IEC 62431:2008
- Alcance
- Este PAS especifica los métodos de medición de la reflectividad de los absorbentes de ondas electromagnéticas (EMA) para la onda incidente normal, la incidente oblicua y cada onda polarizada en el rango de frecuencia de 30 GHz a 300 GHz. Además, estos métodos también son igualmente eficaces para medir la reflectividad de otros materiales. Este PAS es aplicable no sólo a aquellos EMA que se utilizan ampliamente como contramedidas contra fallos de comunicación, interferencias de radio, etc., sino también a los utilizados en una cámara anecoica en algunos casos. Los EMA pueden ser cualquier tipo de material y pueden tener cualquier forma, configuración o estructura en capas arbitraria, como se indica a continuación. Material: material conductor, material dieléctrico, material magnético Forma: plana, tipo piramidal, tipo cuña, etc. Estructura de capas: material de una sola capa, de múltiples capas y de índice graduado Este PAS puede proporcionar el método de medición de la reflectividad aplicable a diversos EMA o materiales. Sin embargo, es posible que no sea aplicable a todas las EMA. Este PAS podrá complementarse con métodos adicionales si fuera necesario para poder satisfacer una demanda futura. El PAS especifica los métodos de medición de la reflectividad de EMA en el rango de ondas milimétricas: ——rango de frecuencia de medición: 30 GHz a 300 GHz - reflectividad: 0 a -50 dB - ángulo de incidencia: 0° a 80°.
IEC PAS 62431:2005 Historia
- 2005 IEC PAS 62431:2005 Métodos de medición de la reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica.
IEC PAS 62431:2005 Métodos de medición de la reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica. ha sido cambiado a IEC 62431:2008 Reflectividad de absorbentes de ondas electromagnéticas en frecuencia de onda milimétrica - Métodos de medición.
