DL/T 1140-2012 (Versión en inglés)

Alcance: Esta norma especifica los parámetros básicos, requisitos técnicos, métodos de prueba, reglas de inspección, placas de identificación, señales e instrucciones para el uso de detectores de fugas láser de hexafluoruro de azufre para equipos eléctricos (en adelante, "detectores de fugas láser SF"). Esta norma se aplica al diseño, producción e inspección de detectores de fugas láser SF.

DL/T 1140-2012 Documento de referencia

GB 11463-1989 Pruebas de confiabilidad de instrumentos de medición electrónicos
GB 4208-2008 Grados de protección proporcionados por el gabinete (código IP)
GB 4793.1-2007 Requisitos de seguridad para equipos eléctricos de medición, control y uso en laboratorio. Parte 1: Requisitos generales
GB 4943-2001 Seguridad de los equipos de tecnología de la información.
GB/T 13962 Instrumentos ópticos-Vocabulario
GB/T 18268.1-2010 Equipos eléctricos para medición, control y uso en laboratorio. Requisitos EMC. Parte 1: Requisitos generales.
GB/T 191 Embalaje. Marcado pictórico para manipulación de mercancías.
GB/T 6587.2-1986 Pruebas de temperatura para instrumentos de medición electrónicos.
GB/T 6587.3-1986 Pruebas de humedad para instrumentos de medición electrónicos.
GB/T 6587.4-1986 Ensayos de vibración para instrumentos de medida electrónicos.
GB/T 6587.5-1986 Pruebas de choque para instrumentos de medida electrónicos.
GB/T 6587.6-1986 Pruebas de transporte para instrumentos de medida electrónicos.
GB/T 6587.8-1986 Pruebas de tensión y frecuencia de línea para instrumentos de medida electrónicos.
GB/T 6593-1996 Disposiciones de inspección de calidad para instrumentos de medición electrónicos.

2012 DL/T 1140-2012 Especificaciones técnicas generales del sistema de imágenes láser con fugas de hexafluoruro de azufre para equipos eléctricos.