GJB 2649A-2011
Planes y procedimientos de muestreo de tasas de fallas para componentes electrónicos militares. (Versión en inglés)

Estándar No.

GJB 2649A-2011

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2011

Organización

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

Ultima versión

GJB 2649A-2011

Reemplazar

GJB 2649-1996

Alcance

Esta norma internacional especifica el plan de muestreo para determinar y mantener clases de tasa de falla en niveles de confianza seleccionados, así como procedimientos para la identificación y prueba de consistencia de lotes de clases de tasa de falla. Las tablas y valores estipulados en esta norma se basan en la distribución exponencial, y algunos componentes (como los condensadores) pueden basarse en la distribución Weibull, pero deben ser aprobados por el organismo de certificación. El diseño de los componentes electrónicos debe ser básicamente el mismo, la producción debe estar básicamente conectada y el control del proceso de producción debe cumplir con las disposiciones de GJB 546 "Programa de garantía de calidad para componentes electrónicos". Esta norma se aplica a las pruebas de tasa de falla especificadas en las especificaciones de producto para componentes electrónicos militares con clases de tasa de falla.

GJB 2649A-2011 Documento de referencia

• GB/T 3358.1 Estadística-Vocabulario y símbolos-Parte 1:Términos estadísticos generales y términos utilizados en probabilidad
• GB/T 3358.2 Estadística. Vocabulario y símbolos. Parte 2: Estadística aplicada
• GB/T 3358.3 Estadística-Vocabulario y símbolos-Parte 3: Diseño de experimentos
• GJB 451 terminología de confiabilidad y mantenibilidad
• GJB 546 Esquema de garantía de confiabilidad para componentes electrónicos

GJB 2649A-2011 Historia

• 2011 GJB 2649A-2011 Planes y procedimientos de muestreo de tasas de fallas para componentes electrónicos militares.
• 1996 GJB 2649-1996 Planes y procedimientos de muestreo de la tasa de fallas de componentes electrónicos militares

GJB 2649A-2011 Planes y procedimientos de muestreo de tasas de fallas para componentes electrónicos militares. ha sido cambiado a GJB 2649-1996 Planes y procedimientos de muestreo de la tasa de fallas de componentes electrónicos militares.