IEC 62132-5:2005
Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética, 150 kHz a 1 GHz - Parte 5: Método de jaula de Faraday en banco de trabajo

Estándar No.

IEC 62132-5:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 62132-5:2005

Reemplazar

IEC 47A/721/FDIS:2005

Alcance

Este procedimiento de medición describe un método de medición para cuantificar la inmunidad a RF de circuitos integrados (CI) montados en una placa de prueba estandarizada o en su placa de aplicación final (PCB), a perturbaciones conductivas electromagnéticas.

IEC 62132-5:2005 Documento de referencia

• IEC 61000-4-6 Compatibilidad electromagnética (CEM). Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición. Inmunidad a las perturbaciones conducidas inducidas por campos de radiofrecuencia.*， 2023-06-06 Actualizar
• IEC 62132-1 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 1: Condiciones generales y definiciones*， 2015-10-29 Actualizar

IEC 62132-5:2005 Historia

• 2005 IEC 62132-5:2005 Circuitos integrados - Medición de inmunidad electromagnética, 150 kHz a 1 GHz - Parte 5: Método de jaula de Faraday en banco de trabajo