Este documento describe un método para mediciones no destructivas del espesor de recubrimientos conductores sobre materiales base no conductores. Este método se basa en el principio de medición de la resistividad de la lámina y es aplicable a cualquier recubrimiento conductor y capas de metal y materiales semiconductores.
DS/EN 14571:2005 Historia
2005DS/EN 14571:2005 Recubrimientos metálicos sobre materiales de base no metálica. Medición del espesor del recubrimiento. Método de microresistividad.