Este informe especifica un método para medir los parámetros de unidades de cristal de cuarzo utilizando una inductancia para compensar los efectos del C0 en la frecuencia de la unidad de cristal con una precisión que depende del tipo de cristales para: a) frecuencia con un rango de precisión fraccional entre 10-6 y 10-8; b) resistencia con una precisión fraccionaria que oscila entre el 2% y el 5%; c) capacitancia de movimiento e inductancia de movimiento con una precisión fraccionaria que oscila entre el 3% y el 7%.