El propósito de esta parte de IEC 60749 es probar y determinar el efecto en todos los dispositivos electrónicos semiconductores del almacenamiento a temperatura elevada sin aplicar tensión eléctrica. Esta prueba se considera no destructiva pero se debe utilizar preferentemente para la calificación del dispositivo. Si se utilizan tales dispositivos para el parto, se deben evaluar los efectos de esta prueba de estrés altamente acelerada.