DS/EN 60749-8+Corr.2:2004

Estándar No.

DS/EN 60749-8+Corr.2:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Danish Standards Foundation

Ultima versión

DS/EN 60749-8+Corr.2:2004

Alcance

Esta parte de IEC 60749 es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados). El objetivo de este método de prueba es determinar la tasa de fuga de dispositivos semiconductores.

DS/EN 60749-8+Corr.2:2004 Historia

• 2004 DS/EN 60749-8+Corr.2:2004