DS/EN 60749-12/Corr.1:2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.

Estándar No.

DS/EN 60749-12/Corr.1:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Danish Standards Foundation

Ultima versión

DS/EN 60749-12/Corr.1:2004

Alcance

Esta parte de IEC 60749 describe una prueba para determinar el efecto de la vibración de frecuencia variable, dentro del rango de frecuencia especificado, en elementos estructurales internos. Esta es una prueba destructiva. Normalmente es aplicable a envases de tipo cavidad. En general, esta prueba de vibración de frecuencia variable cumple con la norma IEC 60068-2-6 pero, debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplican las cláusulas de esta norma.

DS/EN 60749-12/Corr.1:2004 Historia

• 2004 DS/EN 60749-12/Corr.1:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
• 2003 DS/EN 60749-12:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.

estándares y especificaciones