DS/EN 61000-4-17/A1:2004
Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC

Estándar No.
DS/EN 61000-4-17/A1:2004
Fecha de publicación
2004
Organización
Danish Standards Foundation
Estado
 2009-03
Remplazado por
DS/EN 61000-4-17/A2:2009
Ultima versión
DS/EN 61000-4-17/A2:2009
 
Alcance
Esta parte de IEC 61000 define métodos de prueba para la inmunidad a la ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC de equipos eléctricos o electrónicos. Esta norma es aplicable a los puertos de alimentación de CC de bajo voltaje de equipos alimentados por sistemas rectificadores externos o baterías que se están cargando. El objetivo de esta norma es establecer una base común y reproducible para probar, en un laboratorio, equipos eléctricos y electrónicos cuando se someten a voltajes de ondulación como los generados por sistemas rectificadores y/o cargadores de baterías de servicio auxiliar superpuestos a fuentes de suministro de energía de CC. Esta norma define: forma de onda del voltaje de prueba; 　——gama de niveles de prueba; 　——te

DS/EN 61000-4-17/A1:2004 Historia

  • 2009 DS/EN 61000-4-17/A2:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
  • 2004 DS/EN 61000-4-17/A1:2004 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC
  • 2000 DS/EN 61000-4-17:2000 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC

estándares y especificaciones

IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC DS/EN 61000-4-17:2000 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC SANS 61000-4-17:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC DS/EN 61000-4-17/A2:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC GSO IEC 61000-4-17:2008 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001 CSV Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC SANS 61000-4-17:2003 electromagnética (EMC) Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC NF C91-004-17/A2*NF EN 61000-4-17/A2:2009 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC UNE-EN 61000-4-17:2001/A1:2005 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-17: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad al ondulación en el puerto de alimentación de entrada de CC


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