Especifica un método para medir la emisión electromagnética conducida de circuitos integrados mediante medición directa de corriente de RF con una sonda resistiva de 1 ohmio y medición de voltaje de RF utilizando una red de acoplamiento de 150 ohmios. Estos métodos garantizan un alto grado de repetibilidad y correlación de las mediciones.
DS/EN 61967-4/A1:2006 Historia
2021DS/EN IEC 61967-4:2021 Circuitos integrados – Medición de emisiones electromagnéticas – Parte 4: Medición de emisiones conducidas – Método de acoplamiento directo 1 Ω/150 Ω