DS/EN 62258-6:2008

Estándar No.
DS/EN 62258-6:2008
Fecha de publicación
2008
Organización
Danish Standards Foundation
Ultima versión
DS/EN 62258-6:2008
Reemplazar
DS/ES 59008-4-3-2001
Alcance
Esta parte de IEC 62258 se ha desarrollado para facilitar la producción, el suministro y el uso de productos de matrices semiconductoras, que incluyen:  •obleas;  •matriz desnuda singular;  •matriz y obleas con estructuras de conexión adjuntas;  •matriz y obleas mínima o parcialmente encapsuladas. Esta parte de IEC 62258 determina la información requerida para facilitar el uso de datos térmicos y modelos para la simulación del comportamiento térmico y la verificación de la correcta funcionalidad de sistemas electrónicos que incluyen matriz semiconductora desnuda, con o sin estructuras de conexión, y/o matriz semiconductora mínimamente empaquetada. Su objetivo es ayudar a todos aquellos involucrados en la cadena de suministro para

DS/EN 62258-6:2008 Historia




© 2023 Reservados todos los derechos.