LST EN 60749-16-2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003)

Estándar No.

LST EN 60749-16-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-16-2003

LST EN 60749-16-2003 Historia

• 2003 LST EN 60749-16-2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003)