LST EN 60749-11-2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura Método de dos baños de fluidos (IEC 60749-11:2002)

Estándar No.

LST EN 60749-11-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-11-2003

LST EN 60749-11-2003 Historia

• 2003 LST EN 60749-11-2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura Método de dos baños de fluidos (IEC 60749-11:2002)