LST EN 60749-6-2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura (IEC 60749-6:2002)

Estándar No.

LST EN 60749-6-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-6-2003

LST EN 60749-6-2003 Historia

• 2003 LST EN 60749-6-2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura (IEC 60749-6:2002)