LST EN 60749-31-2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducida internamente) (IEC 60749-31:2002)

Estándar No.

LST EN 60749-31-2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-31-2004

LST EN 60749-31-2004 Historia

• 2004 LST EN 60749-31-2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducida internamente) (IEC 60749-31:2002)