LST EN 60749-23-2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas (IEC 60749-23:2004)

Estándar No.

LST EN 60749-23-2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

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LST EN 60749-23-2004 Historia

• 2004 LST EN 60749-23-2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas (IEC 60749-23:2004)