LST EN 62374-2008
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta (IEC 62374:2007)

Estándar No.

LST EN 62374-2008

Fecha de publicación

2008

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 62374-2008

LST EN 62374-2008 Historia

• 2008 LST EN 62374-2008 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta (IEC 62374:2007)