LST EN 60749-35-2007
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006).

Estándar No.

LST EN 60749-35-2007

Fecha de publicación

2007

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-35-2007

LST EN 60749-35-2007 Historia

• 2007 LST EN 60749-35-2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006).