LST EN 60749-37-2008
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro (IEC 60749-37:2008).

Estándar No.

LST EN 60749-37-2008

Fecha de publicación

2008

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-37-2008

LST EN 60749-37-2008 Historia

• 2008 LST EN 60749-37-2008 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro (IEC 60749-37:2008).