IEEE N42.45-2011
Estándar nacional estadounidense para evaluar la calidad de la imagen de los sistemas de detección de seguridad de tomografía computarizada (TC) de rayos X

Estándar No.

IEEE N42.45-2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE N42.45-2011

IEEE N42.45-2011 Historia

• 2011 IEEE N42.45-2011 Estándar nacional estadounidense para evaluar la calidad de la imagen de los sistemas de detección de seguridad de tomografía computarizada (TC) de rayos X