IEEE/ANSI N42.45-2011
Estándar nacional estadounidense para evaluar la calidad de la imagen de los sistemas de detección de seguridad de tomografía computarizada (TC) de rayos X

Estándar No.

IEEE/ANSI N42.45-2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

Remplazado por

IEEE/ANSI N42.45-2021

Ultima versión

IEEE/ANSI N42.45-2021

IEEE/ANSI N42.45-2011 Historia

• 1970 IEEE/ANSI N42.45-2021 Estándar nacional estadounidense para evaluar la calidad de la imagen de los sistemas de detección de seguridad de tomografía computarizada (TC) de rayos X
• 2011 IEEE/ANSI N42.45-2011 Estándar nacional estadounidense para evaluar la calidad de la imagen de los sistemas de detección de seguridad de tomografía computarizada (TC) de rayos X