BS ISO 16531:2013
Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS

Estándar No.

BS ISO 16531:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2020-10

Remplazado por

BS ISO 16531:2020

Ultima versión

BS ISO 16531:2020

BS ISO 16531:2013 Historia

• 2020 BS ISO 16531:2020 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS
• 2013 BS ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o la densidad de corriente para perfiles de profundidad en AES y XPS