Esta especificación cubre técnicas gráficas en la implementación de pruebas de bondad de ajuste para tiempos de falla que siguen la distribución de Weibull.
KS A IEC 61649:2003 Historia
0000 KS A IEC 61649-2003(2023)
0000 KS A IEC 61649-2003(2018)
2003KS A IEC 61649:2003 Pruebas de bondad de ajuste, intervalos de confianza y límites de confianza inferiores para datos distribuidos de Weibull