KS D ISO 22493:2012
Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario

Estándar No.

KS D ISO 22493:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS D ISO 22493-2012(2017)

Ultima versión

KS D ISO 22493:2022

Alcance

Este estándar define los términos utilizados en el análisis de microscopía electrónica de barrido (SEM). Esta norma es una sistemática

KS D ISO 22493:2012 Historia

• 2022 KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
• 0000 KS D ISO 22493-2012(2017)
• 2012 KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario