KS C IEC 60377-2:2002 Métodos recomendados para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz-Parte 2: Métodos de resonancia
Esta norma mide las pérdidas asociadas con materiales dieléctricos sólidos y líquidos o solubles en el rango de alta frecuencia mediante métodos de resonancia.
KS C IEC 60377-2:2002 Historia
2023KS C IEC 60377-2-2023 Métodos para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz. Parte 2: Métodos de resonancia.
2018KS C IEC 60377-2:2018 Métodos para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz. Parte 2: Métodos de resonancia.
2002KS C IEC 60377-2:2002 Métodos recomendados para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz-Parte 2: Métodos de resonancia