KS C IEC 60377-2:2002
Métodos recomendados para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz-Parte 2: Métodos de resonancia

Estándar No.
KS C IEC 60377-2:2002
Fecha de publicación
2002
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60377-2:2018
Ultima versión
KS C IEC 60377-2-2023
 

Alcance
Esta norma mide las pérdidas asociadas con materiales dieléctricos sólidos y líquidos o solubles en el rango de alta frecuencia mediante métodos de resonancia.

KS C IEC 60377-2:2002 Historia

  • 2023 KS C IEC 60377-2-2023 Métodos para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz. Parte 2: Métodos de resonancia.
  • 2018 KS C IEC 60377-2:2018 Métodos para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz. Parte 2: Métodos de resonancia.
  • 2002 KS C IEC 60377-2:2002 Métodos recomendados para la determinación de las propiedades dieléctricas de materiales aislantes a frecuencias superiores a 300 MHz-Parte 2: Métodos de resonancia

estándares y especificaciones




© 2025 Reservados todos los derechos.