KS L 1620-2003
Métodos de prueba para medir la resistividad de películas delgadas cerámicas eléctricamente conductoras con el método de Van der Pauw

Estándar No.

KS L 1620-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

 2013-10

Remplazado por

KS L 1620-2013

Ultima versión

KS L 1620-2013(2018)

Alcance

Esta norma mide la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras utilizando el método de Van der Pauw.

KS L 1620-2003 Historia

• 0000 KS L 1620-2013(2018)
• 2013 KS L 1620-2013 Métodos de prueba para medir la resistividad de películas delgadas cerámicas eléctricamente conductoras con el método de Van der Pauw
• 2003 KS L 1620-2003 Métodos de prueba para medir la resistividad de películas delgadas cerámicas eléctricamente conductoras con el método de Van der Pauw