General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
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GB/T 30110-2013
Alcance
Esta norma especifica los métodos de prueba y los requisitos de los equipos de prueba para los parámetros de rendimiento de los materiales de epitaxia de telururo de mercurio y cadmio (HgCdTe) para detectores de infrarrojos espaciales. Esta norma se aplica a las pruebas de parámetros de materiales epitaxiales de telururo de mercurio y cadmio utilizados en detectores de infrarrojos espaciales, y las pruebas de parámetros de materiales epitaxiales de telururo de mercurio y cadmio para otros usos pueden usarse como referencia.
GB/T 30110-2013 Documento de referencia
GB/T 1553-2009 Métodos de prueba para determinar la vida útil de los portadores minoritarios en germanio y silicio a granel mediante la medición de la decadencia de la fotoconduividad.
GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 4326-2006 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall
GJB 1485 Precisión, exactitud e incertidumbre de los métodos de prueba de propiedades físicas de los materiales.
GJB 2712 Requisitos de garantía de calidad para equipos de medición. Sistema de confirmación metrológica.
GJB 548B-2005 Métodos y procedimientos de prueba para dispositivos microelectrónicos.
GB/T 30110-2013 Historia
2013GB/T 30110-2013 Métodos de medición de parámetros de epicapas de HgCdTe utilizadas para detectores de infrarrojos espaciales