KS C IEC 60444-2:2002 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red p－Parte 2: Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo
Esta norma especifica la precisión de las unidades de cristal en el rango de frecuencia de 1 a 125 MHz con un error de medición total del orden del 5 %.
KS C IEC 60444-2:2002 Historia
0000 KS C IEC 60444-2-2002(2022)
0000 KS C IEC 60444-2-2002(2017)
2002KS C IEC 60444-2:2002 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo mediante la técnica de fase cero en una red p－Parte 2: Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo