IEC 62149-3:2014
Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodo láser integrados en modulador para sistemas de transmisión de fibra óptica de 2,5 Gbit/s a 40 Gbit/s.

Estándar No.
IEC 62149-3:2014
Fecha de publicación
2014
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 62149-3:2020 RLV
Ultima versión
IEC 62149-3:2023
Reemplazar
IEC 86C/1157/CDV:2013 IEC 62149-3:2004
Alcance
Esta parte de IEC 62149 cubre la especificación de rendimiento para moduladores ópticos integrados monolíticamente con diodos láser para sistemas de transmisión de fibra óptica multicanal de 2 a 5 Gbit/s a 40 Gbit/s. Este estándar de desempeño contiene una definición de los requisitos de desempeño del producto junto con una serie de conjuntos de pruebas y mediciones con condiciones claramente definidas, severidades y criterios de aprobación/rechazo. Las pruebas están destinadas a realizarse como una verificación inicial del diseño para demostrar la capacidad de cualquier producto para satisfacer los requisitos del estándar de desempeño. Este estándar sólo es aplicable para el formato de codificación on-off. Un producto que ha demostrado que cumple con todos los requisitos de una norma de desempeño puede declararse que cumple con la norma de desempeño, pero luego debe ser controlado mediante un programa de garantía de calidad.

IEC 62149-3:2014 Documento de referencia

  • IEC 60068-2-14:2009 Pruebas ambientales - Parte 2-14: Pruebas - Prueba N: Cambio de temperatura
  • IEC 60068-2-1:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-1: Pruebas - Prueba A: Frío
  • IEC 60068-2-27:2008 Pruebas ambientales - Parte 2-27: Pruebas - Prueba Ea y orientación: Choque
  • IEC 60068-2-2:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-2: Pruebas - Prueba B: Calor seco
  • IEC 60068-2-6:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-6: Pruebas - Prueba Fc: Vibración (sinusoidal)
  • IEC 60068-2-78:2012 Pruebas ambientales - Parte 2-78: Pruebas - Cabina de prueba: Calor húmedo, estado estable
  • IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
  • IEC 60749-7:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
  • IEC 60825-1:2014 Seguridad de los productos láser - Parte 1: Clasificación y requisitos de los equipos
  • IEC 60950-1:2005 Equipos de tecnología de la información - Seguridad - Parte 1: Requisitos generales
  • IEC 62007-1:2008 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 1: Plantilla de especificaciones para clasificaciones y características esenciales.
  • ITU-T G.694.1-2012 Rejillas espectrales para aplicaciones WDM: Rejilla de frecuencia DWDM (Comisión de Estudio 15)

IEC 62149-3:2014 Historia

  • 2023 IEC 62149-3:2023 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser con modulador integrado para sistemas de transmisión de fibra óptica de 40 Gbit/s.
  • 2021 IEC 62149-3:2020/COR1:2021 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser integrados en modulador para sistemas de transmisión de fibra óptica de 40 Gbit/s; Corrección 1
  • 0000 IEC 62149-3:2020 RLV
  • 2014 IEC 62149-3:2014 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodo láser integrados en modulador para sistemas de transmisión de fibra óptica de 2,5 Gbit/s a 40 Gbit/s.
  • 2004 IEC 62149-3:2004 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 3: Transmisores de diodos láser con modulador integrado de 2,5 Gbit/s.



© 2023 Reservados todos los derechos.