TCVN 7790-1-2007
Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote

Estándar No.
TCVN 7790-1-2007
Fecha de publicación
2007
Organización
COMMISSION FOR THE STANDARDS, METROLOGY AND QUALITY OF VIETNAM (STAMEQ)
Ultima versión
TCVN 7790-1-2007
 

Introducción
Este documento establece los procedimientos para la inspección por muestreo de aceptación basada en el límite de calidad aceptable (AQL). Proporciona un método sistemático para determinar los planes de muestreo para inspección por lotes, permitiendo la selección de muestras según criterios predefinidos. Incluye tablas y gráficos que facilitan la aplicación práctica de estos procedimientos. El documento se enfoca en la implementación de planes de muestreo que garantizan un nivel adecuado de calidad en los productos inspeccionados. También describe las condiciones bajo las cuales se pueden aplicar estos planes, así como las acciones a tomar en función de los resultados obtenidos durante la inspección. Este enfoque ayuda a asegurar la consistencia y la eficacia en los procesos de control de calidad.

TCVN 7790-1-2007 Historia

  • 2007 TCVN 7790-1-2007 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote

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