TCVN 7790-5-2008 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo secuencial indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote
COMMISSION FOR THE STANDARDS, METROLOGY AND QUALITY OF VIETNAM (STAMEQ)
Ultima versión
TCVN 7790-5-2008
Introducción
Este estándar establece un procedimiento para la inspección por muestreo en lotes, basado en la búsqueda de un límite de calidad aceptable (AQL). Desarrolla un sistema de muestreo secuencial que permite determinar el tamaño de la muestra y los criterios de aceptación o rechazo según el nivel de calidad requerido. El documento proporciona instrucciones claras sobre cómo aplicar el método de inspección secuencial en diferentes situaciones industriales. Incluye tablas y ejemplos que facilitan la comprensión y el uso del sistema. Este estándar está dirigido a organizaciones que desean implementar un sistema de control de calidad basado en el muestreo secuencial. Establece requisitos específicos para la realización de la inspección, asegurando una evaluación objetiva del cumplimiento de los estándares de calidad.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
TCVN 7790-5-2008 Historia
2008TCVN 7790-5-2008 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo secuencial indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote