TCVN 7790-5-2008
Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo secuencial indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote

Estándar No.

TCVN 7790-5-2008

Fecha de publicación

2008

Organización

VN-TCVN

Ultima versión

TCVN 7790-5-2008

TCVN 7790-5-2008 Historia

• 2008 TCVN 7790-5-2008 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 5: Sistema de planes de muestreo secuencial indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote