JB/T 8268-2015
Método de prueba de defectos superficiales para fotoconductores en el proceso de copia electrostática. (Versión en inglés)

Estándar No.

JB/T 8268-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

Professional Standard - Machinery

Ultima versión

JB/T 8268-2015

Reemplazar

JB/T 8268-1999

Alcance

Esta norma especifica las condiciones de medición, los métodos de medición y los informes de medición para defectos superficiales de fotoconductores electrofotográficos. Esta norma es aplicable a la medición de la calidad de la apariencia y la impresión de fondo de los fotoconductores utilizados en equipos de copia electrostática (impresión, fax, multifunción).

JB/T 8268-2015 Historia

• 2015 JB/T 8268-2015 Método de prueba de defectos superficiales para fotoconductores en el proceso de copia electrostática.
• 1999 JB/T 8268-1999 Método de prueba estándar para defectos superficiales de fotoconductores en procesos electrostáticos
• 0000 JB/T 8268-1995