SJ/T 2354-2015
Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ/T 2354-2015
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2015
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Ultima versión
- SJ/T 2354-2015
- Reemplazar
- SJ/T 2354.1-1983 SJ/T 2354.2-1983 SJ/T 2354.3-1983 SJ/T 2354.4-1983 SJ/T 2354.5-1983 SJ/T 2354.6-1983 SJ/T 2354.7-1983 SJ/T 2354.8-1983 SJ/T 2354.9-1983 SJ/T 2354.10-1983 SJ/T 2354.11-1983 SJ/T 2354.12-1983 SJ/T 2354.13-1983 SJ/T 2354.14-1983
- Alcance
- Esta norma especifica los métodos de prueba para los parámetros fotoeléctricos de PIN y fotodiodos de avalancha (en adelante, "diodos").
SJ/T 2354-2015 Historia
- 2015 SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
- 0000 SJ/T 2354.14-1983
