BS ISO 17901-1:2015 Óptica y fotónica. Holografía. Métodos para medir la eficiencia de difracción y las características ópticas asociadas de los hologramas.
Esta parte de la norma ISO 17901 especifica la terminología relacionada con las propiedades ópticas de los hologramas, los métodos para medir su eficiencia de difracción y los métodos para medir la selectividad angular y de longitud de onda. Estos métodos de medición son aplicables a cualquier tipo de holograma, siempre que este produzca un patrón de difracción simple; es decir, que la onda reconstruida pueda distinguirse claramente de otras ondas difractadas y no difractadas. En otras palabras, se excluyen los hologramas que producen patrones de difracción complejos. No existen restricciones sobre los materiales que componen el holograma.
BS ISO 17901-1:2015 Documento de referencia
ISO 15902 Óptica y fotónica — Óptica difractiva — Vocabulario*, 2019-12-16 Actualizar
ISO 17901-2 Óptica y fotónica - Holografía - Parte 2: Métodos para medir las características de grabación de hologramas
BS ISO 17901-1:2015 Historia
2015BS ISO 17901-1:2015 Óptica y fotónica. Holografía. Métodos para medir la eficiencia de difracción y las características ópticas asociadas de los hologramas.