BS ISO 17859:2015 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de medición de la tensión piezoeléctrica en un campo eléctrico elevado.
Esta Norma Internacional especifica un método para medir la deformación piezoeléctrica de dispositivos piezoeléctricos de alta potencia sometidos a campos eléctricos elevados. Esta Norma Internacional tiene como objetivo determinar el factor de deformación piezoeléctrica de un material midiendo la dependencia de la deformación con el campo eléctrico:
——Campo eléctrico aplicado: 0 a 2 MV/m;
——Frecuencia del campo eléctrico: 0,1 a 1 Hz.
BS ISO 17859:2015 Documento de referencia
EN 50324-1 Propiedades piezoeléctricas de materiales y componentes cerámicos Parte 1: Términos y definiciones
EN 50324-2 Propiedades piezoeléctricas de materiales y componentes cerámicos Parte 2: Métodos de medición - Baja potencia
IEC 60122-1 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada – Parte 1: Especificación genérica (Edición 3.1; Reimpresión consolidada)*, 2017-12-01 Actualizar
IEC 60483 Guía para mediciones dinámicas de cerámicas piezoeléctricas con alto acoplamiento electromecánico.
BS ISO 17859:2015 Historia
2015BS ISO 17859:2015 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de medición de la tensión piezoeléctrica en un campo eléctrico elevado.