IEC 60147-0C:1973
Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 0: General y terminología

Estándar No.

IEC 60147-0C:1973

Fecha de publicación

1973

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Ultima versión

IEC 60147-0C:1973

Remplazado por

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-0C:1973 Historia

• 1966 IEC 60147-0:1966 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 0: General y terminología

IEC 60147-0C:1973 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 0: General y terminología ha sido cambiado a IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores.

IEC 60147-0C:1973 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 0: General y terminología ha sido cambiado a IEC 60747-1:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 1: Generalidades.

IEC 60147-0C:1973 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 0: General y terminología ha sido cambiado a IEC 60747-6:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 6: Tiristores.