IEC 60747-2:1983
Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores

Estándar No.

IEC 60747-2:1983

Fecha de publicación

1983

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 60747-2/AMD1:1992

Ultima versión

IEC 60747-2:2016

Reemplazar

IEC 60147-1:1972 IEC 60147-1F:1973 IEC 60147-1H:1981 IEC 60147-1J:1981 IEC 60147-2:1963 IEC 60147-2B:1970 IEC 60147-2C:1970 IEC 60147-2F:1974 IEC 60147-2K:1978 IEC 60147-2M:1980 IEC 60147-3:1970 IEC 60147-3A:1973 IEC 60147-4:1976 IEC 60147-1G:1975 IEC 601

IEC 60747-2:1983 Historia

• 2016 IEC 60747-2:2016 Dispositivos semiconductores - Parte 2: Dispositivos discretos - Diodos rectificadores
• 2000 IEC 60747-2:2000 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 2: Diodos rectificadores.
• 1993 IEC 60747-2/AMD2:1993 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos y circuitos integrados; parte 2: diodos rectificadores; enmienda 2
• 1992 IEC 60747-2/AMD1:1992 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos y circuitos integrados; parte 2: diodos rectificadores; enmienda 1
• 1983 IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-1:1972 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales.

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-1F:1973 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-1J:1981 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-2:1963 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 2: Principios generales de los métodos de medición..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-2B:1970 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 2: Principios generales de los métodos de medición..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-2C:1970 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 2: Principios generales de los métodos de medición..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-2F:1974 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 2: Principios generales de los métodos de medición..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-2K:1978 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 2: Principios generales de los métodos de medición..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-2M:1980 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 2: Principios generales de los métodos de medición..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-3:1970 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 3: Métodos de medición de referencia..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-3A:1973 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 3: Métodos de medición de referencia..

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-4:1976 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 4: Aceptación y confiabilidad.

IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores ha sido cambiado a IEC 60147-1G:1975 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales..